雷達物位計的測量原理與測量條件
發布時間 :2019/4/15
測量原理
調頻連續波雷達物位計在測量過程中應用了按照線性變化的高頻信號 ,雷達物位計的信號從天線發出 ,在被測量平麵反射 ,回波被天線接收 。雷達物位計信號的發出與回波接收的頻率差被用於進一步的信號處理 ,頻率差對應於測量距離 。一個大的頻率差應對於一個較大的測量距離 。通過FFT頻率差被轉化為頻譜差 ,進而換算出測量距離 。物位與測量距離的差別取決於空罐的高度 。發射能量很低的極短的微波脈衝通過天線係統發射並接收 。
即使工況比較複雜的情況下 ,存在虛假回波 ,用最新的微處理技術和調試軟件也可以準確的分析出物位的回波 。輸入天線接收反射的微波脈衝並將其傳輸給電子線路:
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知 ,則物位L為:
L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度E(=零點) ,滿罐高度F(=滿量程)及一些應用參數來設定 ,應用參數將
自動使儀表適應測量環境 。
對應於4-20mA輸出 。
測量條件
注意事項
- 測量範圍從波束觸及罐低的那一點開始計算 ,但在特殊情況下 ,若罐低為凹型或錐形 ,當物位低於此點時無法進行測量 。
- 若介質為低介電常數當其處於低液位時 ,罐低可見 ,此時為保證測量精度 ,建議將零點定在低高度為C 的位置 。
- 理論上測量達到天線尖端的位置是可能的 ,但是考慮到及粘附的影響 ,測量範圍的終值應距離天線的尖端至少100mm 。
- 對於過溢保護,可定義一段安全距離附加在盲區上 。
- 最小測量範圍與天線有關 。
- 隨濃度不同 ,泡沫既可以吸收微波 ,又可以將其反射 ,但在一定的條件下是可以進行測量的 。
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